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Repositorio:"MIT"
Fecha:"1946"
Temas
TK7855.M41 R43 no.17
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Thin films
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Idiomas
Inglés
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Año
2004
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1.
An x-ray method for measuring the thickness of thin crystalline films
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[by] A. Eisenstein., "Reprinted from Journal of applied physics, vol. 17, No. 11, 874-878, November, 1946.", Includes bibliographical references.
Fecha:
2004-03-03
Recurso:
MIT
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