Buscar
Filtrado por:
Repositorio:"MIT"
Fecha:"1946"
Temas
TK7855.M41 R43 no.17
(1)
Thin films
(1)
Más...
Idiomas
Inglés
(1)
Más...
Año
2004
(1)
Más...
Aproximadamente
1
registro(s) hasta el momento: (
journal
)
Mostrar
10
|
50
|
100
resultados por página
Recurso libre
1.
An x-ray method for measuring the thickness of thin crystalline films
Formato:
Enlaces:
[by] A. Eisenstein., "Reprinted from Journal of applied physics, vol. 17, No. 11, 874-878, November, 1946.", Includes bibliographical references.
Fecha:
2004-03-03
Recurso:
MIT
CIC - Centro de Información y Conocimiento Johannes Gutenberg ®