| Título: |
Determinación de las constantes ópticas y el espesor de materiales holográficos Determination of the optical constants and thickness of holographic materials |
| Autores: |
Beléndez Vázquez, Augusto Ortuño Sánchez, Manuel Gallego Rico, Sergi Beléndez Vázquez, Tarsicio Neipp López, Cristian Pascual Villalobos, Inmaculada |
| Fecha: |
2009-02-19 2009-02-19 2003-02-01 2004-03 |
| Publicador: | RUA Docencia |
| Fuente: |
 |
| Tipo: | info:eu-repo/semantics/article |
| Tema: |
Holography Holographic recording materials Thin films Optical constants Física Aplicada Óptica Ciencia de Materiales e Ingeniería Metalúrgica |
| Descripción: |
Se presenta una técnica experimental para determinar el índice de refracción, el coeficiente de absorción y el espesor de materiales de registro
holográfico. Los materiales están depositados como capas finas sobre una lámina planoparalela de vidrio. Se determina experimentalmente
la reflectancia en función del ángulo de incidencia para luz polarizada linealmente paralela al plano de incidencia, de modo que los valores
del índice de refracción, el coeficiente de absorción y el espesor se obtienen ajustando la ecuación de la reflectancia teórica a los datos
experimentales. Como ejemplos se han analizado emulsiones fotográficas y fotopolímeros, obteniéndose un buen ajuste entre la función
teórica y los datos experimentales. A technique to evaluate the refractive index, the absorption coefficient and the thickness of holographic recording materials is presented. The materials are in the form of a thin layer of film deposited on a thick glass plate. The experimental reflectances of p-polarized light are measured as a function of the incident angle, and the values of refractive index, thickness and absorption coefficient of the layer are obtained using the theoretical equation for reflectance. As examples, holographic silver halide emulsions and photopolymers are analyzed. The agreement between the calculated reflectances, using the thickness and refractive index obtained, and the measured reflectances is satisfactory. Este trabajo ha sido subvencionado por la CICYT (proyecto MAT2000-1361-C04-04) y la Oficina de Ciencia y Tecnología de la Generalitat Valenciana (proyecto GV01-130). |
| Idioma: | Español |
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