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Recurso libre 
1.
Measuring the Impact of Information Technology on Value and Productivity using a Process-Based Approach: The case for RFID Technology
Subirana, Brian - Eckes, Chad - Herman, George - Sarma, Sanjay - Barrett, Michael
Formato: Working Paper
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Fecha: 2004-03-12
Recurso: MIT

Recurso libre 
2.
An Equilibrium Model of Rare Event Premia
Liu, Jun - Pan, Jun - Wang, Tan
Formato:
Enlaces:
Fecha: 2002-08-12
Recurso: MIT