Título: Monitoreo de datos funcionales
Autores: Plazola Ortiz, Rodrigo
Fecha: 2013
Publicador: CIMAT
Fuente:
Tipo: info:eu-repo/semantics/masterThesis
Tema: info:eu-repo/classification/MSC/Control Estadístico de Procesos Cartas de Control para datos funcionales Base B-spline Reducción de dimensionalidad Carta de control multivariada T2 Boostrap.
info:eu-repo/classification/cti/1
Descripción: Monitorear la calidad es un componente esencial en todo proceso industrial, el conjunto de herramientas que ayudan al monitoreo de procesos industriales es llamado Control Estadístico de Procesos (CEP), que incluye herramientas como las tradicion
Idioma: spa