Título: TÉCNICAS AVANZADAS DE DEMODULACIÓN DE PATRONES DE FRANJAS
Autores: ARACELI SANCHEZ ALVAREZ
Fecha: 2007-08
Publicador: CIO
Fuente:
Tipo: info:eu-repo/semantics/masterThesis
Tema: info:eu-repo/classification/INTERFEROMETRÍA/INTERFEROMETRÍA
info:eu-repo/classification/cti/1
info:eu-repo/classification/cti/22
info:eu-repo/classification/cti/2209
info:eu-repo/classification/cti/220919
Descripción: En metrología óptica generalmente se usan interferómetros ópticos para medir una amplia gama de cantidades físicas. Dependiendo de la aplicación, muchos tipos de interferómetros pueden ser usados pero su objetivo común es producir un patrón de franjas que es modulado en fase por la cantidad física medida.
Idioma: spa